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一、iEDX-150AT型铝塑膜R角厚度分析仪技术参数：
1. X高压电源：输入电压 50V，总功率50W，输出电压3-50KV连续可调，输出电流0-2mA
2. 探测器类型：电子制冷式硅漂移SDD探测器
3. 探测器分辨率：125eV， Be窗0.3-0.5mi
4.X射线管：微焦长寿命X射线管
5. 准直器:Φ0.2mm（可选Φ.0.2mm、Φ0.3mm、Φ0.5mm、Φ1mm、Φ4mm、Φ4mm)
6. 摄像头：分辨率1.3 million
7. 控制板:X光控制，机械动作控制
8. 外形尺寸:618*525*490mm WxDxH（宽*深*高）
9. 平台移动范围:≥160mm*160mm*90mm(X*Y*Z)
10. 样品仓尺寸：≥500*400*200mm
11. 样品台尺寸:≥220*250mm（长*高）
12. 平台z大负荷:5Kg
13. 工作距离：5mm
14. 正版操作系统：win10,win11等
15. 分析软件：MultiRay，FP算法
16. 测量精度：0.001um
17. 电源电压：220V，50/60Hz
18. 功率：600W
19. 重量:85Kg
20. 测量结果一键生成测量报告，可直接打印输出，可提供包括中、英文在内的多语言软件，软件终生免费升级
二、iEDX-150AT型铝塑膜R角厚度分析仪功能特点：
1. 具备全自动检测功能，XYZ三维全自动操作平台
2. 每次开机测试前不需要预热，每次测试时不需要元素片校准
3. 开放式的编程功能，可以多样品或连续多点测
4. 上照式光源系统，方便样品的摆放及测试
5. 全封闭样品仓，双重辐射联锁保护装置，确保无辐射泄露
6. 自动聚焦功能，鼠标选点，即选即测
7. 采用先进真实的FP分析方法，叠加MultiRay分析软件，做到数据实时存储及随时调用
8. 辐射豁免相关许可。
三、其它配件：
1. 标准片：20μm，30μm，40μm左右，共3个，以证书厚度为准，每片附带证书
2. R角测试治具：2个（定制）
3. 标片校准用治具：1个（定制）
4. 原材料测试治具：1个（定制）
5. 点检治具：1 个（定制）
6. 电脑：控制系统计算机：具有USB接口的PC机 ,CPU 双核2.8G及以上,内存\硬盘8G\1T。
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